a) Tener la nacionalidad española o ser nacional de un Estado miembro de la Unión Europea o nacional de aquellos Estados a los que, en virtud de tratados internacionales celebrados por la Comunidad Europea y ratificados por España, sea de aplicación la libre circulación de trabajadores en los términos en que ésta se halle definida en el tratado constitutivo de la Comunidad Europea.

b) Tener cumplidos los dieciocho años.

c) Tener capacidad para contratar la prestación de su trabajo, conforme con lo establecido en el artículo 7 del Estatuto de los Trabajadores.

d) No padecer enfermedad ni limitaciones físicas o psíquicas incompatibles con el normal desempeño de las tareas o funciones correspondientes.

e) No haber sido separado mediante expediente disciplinario del servicio de cualquiera de las Administraciones Públicas, ni hallarse inhabilitado para el desempeño de las funciones públicas por sentencia judicial firme.

f) Estar en posesión de la titulación requerida, según se especifica en el anexo I.

g) Todos los requisitos anteriormente reseñados deberán poseerse en el día de finalización del plazo de presentación de solicitudes y mantenerse hasta la firma del contrato.

Anexo I
Titulación: Licenciado en Ciencias Químicas/Físicas/Geológicas.

Perfil: Conocimientos en análisis instrumental y cristalografía, preferentemente relacionados con el manejo de equipos de Difracción de Rayos X.

Anexo VII

PROGRAMA
TEMARIO PARA TÉCNICO DE LAS UNIDADES DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X

1. Cristalografía y difracción.

1.1. Propiedades físicas de la radiación X.
1.2. Producción de rayos X. Absorción de rayos X.
1.3. Simetría Cristalina: grupos puntuales y espaciales. Redes de Bravais.
1.4. Estructuras moduladas y cuasicristales.
1.5. Ley de Bragg. Red recíproca. Construcción de Ewald.
1.6. Difracción de rayos X. Factor de estructura. Ley de Friedel. Dispersión Anómala.
1.7. Cristalización y propiedades de los cristales. Cristalización de proteínas.

2. Metodología.

2.1. Geometrías del experimento de difracción. El difractómetro de cuatro círculos.
2.2. Detección de los haces difractados.
2.3. Determinación precisa de los parámetros de red.
2.4. Identificación de materiales.
2.5. Reducción de datos. Correcciones de Lorentz, Polarización y Absorción.
2.6. Métodos de determinación de la fase.
2.7. Afinamiento de estructuras cristalinas.
2.8. El Método de Rietveld.
2.9. Análisis de fases cristalinas en sistemas multicomponente.

(…) Puedes ver más información sobre el temario en el boletín oficial

boletín oficial (Pág. 7/10)

VIII.- Criterios de selección:
El sistema de selección de los aspirantes se hará mediante una fase de concurso y una valoración técnica.

Fase de concurso.
     En esta fase se valorarán los méritos alegados y probados documentalmente por el concursante, según puntuación que figura en el anexo V de esta convocatoria.

(…)