Tomografía Computarizada y Métodos de Caracterización 3D de Materiales
Curso
En MADRID
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Descripción
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Tipología
Curso
-
Lugar
Madrid
-
Duración
1 Día
Objetivo del curso: Análisis técnico de los sistemas de adquisición de datos y su idoneidad para cada aplicación. Dirigido a: Orientado a profesionales de la producción, calidad, mantenimiento, I+D, metrología, etc, que requieran mayor conocimiento en caracterización en 3D y a distinta escala, diferentes tecnologías de la inspección no-destructiva, aspectos metrológicos e ingeniería inversa a considerar para cada aplciación.
Instalaciones y fechas
Ubicación
Inicio
Inicio
Opiniones
Materias
- Ingeniería de procesos
- Ingeniería inversa
Profesores
AMADIS ZORRILLA-FONTANESI
ING. DE MATERIALES
Ing. de Materiales, Área de Materiales y Procesos Centro Avanzado de Tecnologías Aeroespaciales (CATEC)
FERNANDO LASAGNI
RESPONSABLE AREA DE MATERIALES Y PROCESOS EN CATEC.
Fernando A. Lasagni Dr. en Ciencia de Materiales, Resp. Área de Materiales y Procesos Centro Avanzado de Tecnologías Aeroespaciales (CATEC) Prof. Asociado Dpto. de Ingeniería Mecánica y de los Materiales Universidad de Sevilla
Temario
- Computarizada y métodos de caracterización 3D de materiales y defectos.
- Introducción.
- Micro-tomografía por rayos-X
- Submicro-tomogragrafía utilizando radiación sincrotrónica.
- Tomografía FIB (Focused Ion Beam).
- Atom Probe Tomography.
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Tomografía Computarizada y Métodos de Caracterización 3D de Materiales